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기업육성도우미

기초과학에 바탕을 둔 소재 및 소자와 관련된 표면 및 절단면 구조 관찰, 결정구조, 전기적, 그리고 광학적물성 분석을 수행하여 물성과학 분야 및 관련분야의 공동연구와 분석지원 등을 수행하고 있습니다.

지원분야

  • 표면 현상 분석
    • SEM: 금속, 세라믹의 표면 형상 및 EDX로 물질의 성분 분석
    • AFM: 물질의 표면 특성을 나노 단위까지 탐침을 이용하여 측정 분석
  • 분광학적 특성 분석
    • UV spectrometer: 유리와 같은 투과체의 흡수율 및 금속 표면과 같은 반사체의 반사율 측정
    • FTIR: 분자의 진동에너지 분석에 의한 분자 구조 해석
    • PL mapper: 웨이퍼의 발광특성 및 그 균일도 분석
    • Low temperature PL system: 실온과 저온에서 물질의 발광특성을 분석
    • Micro-PL : 현미경을 이용하여 마이크로 단위의 물질의 발광특성을 분석
  • 전기적 특성 분석
    • Hall Effect system: 전도성 및 반전도성 물질을 자기장 속에 놓고, 자기장의 방향에 직각으로 고체 속에 Current를 흘리면, 두 방향 각각에 직각방 향으로 고체 속에 Electric Field가 형성되고 이때 Hall Voltage을 측정함으로써 전기적 특성 평가
    • ECV: 반도체 웨이퍼 시료를 식각하면서 운반자 농도 측정
  • 결정구조 분석
    • XRD: X-선을 이용하여 bulk결정 물질 혹은 박막물질의 결함 및 구조를 비파괴 방식으로 측정
  • 관련부서와 연락처

    관련부서와 연락처
    관련부서 성명 연락처 이메일 비고
    시험인증지원센터 김제근 062-605-9411 이메일 확인 물성분석